«Holographic Interferometry as a Method of Determination of Quality of Nanostructured Coatings»
作者: M. Yu. Barabash, R. V. Litvin, D. S. Leonov, A. A. Kolesnichenko, V. E. Martynchuk, and L. V. Ryabov
刊名: Nanosistemi,Nanomateriali,Nanotehnologii, 2018, Vol.16 (1), pp.0153-0166
来源数据库: G.V. Kurdyumov Institute for Metal Physics, National Academy of Science of the Ukraine
原始语种摘要: Рассмотрены существующие оптические методы неразрушающего контроля качества материалов и наноструктурных покрытий. Показано, что голографические интерферометрические методы обеспечивают высокую точность измерений, простоту интерпретации данных и возможность их использования при контроле широких ассортиментов материалов. Приведена методика цифровой записи голографических и интерферометрических картин с последующей компьютерной обработкой результатов и получением фазового портрета объектов. Описана физическая природа голограмм, принципы их моделирования для повышения механических свойств материалов и покрытий.
全文获取路径: PDF下载  N.A.S. of Ukraine  (合作)
分享到:

×