小麦叶片胁迫状态下的高光谱图像特征分析研究
作者: 张东彦张竞成朱大洲王纪华罗菊花赵晋陵黄文江
来源数据库: Academy Publication
关键词: 高光谱成像特征分析胁迫小麦叶片Hyperspectral imagingCharacteristic analysisStressWheat leaf
全文获取路径: AP 
分享到:

×